Кремниевый Полировочный Тип SEM для экспериментальных исследований высокая



Сохраните в закладки:

Цена:10339.06RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Nanomaterials development experts Store

Nanomaterials development experts Store

Магазина Nanomaterials development experts Store работает с 19.04.2019. его рейтинг составлет 82.35 баллов из 100. В избранное добавили 347 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.3 в продаже представленно 1874 наименований товаров, успешно доставлено 68 заказов. 17 покупателей оставили отзывы о продавце.

Характеристики

Кремниевый Полировочный Тип SEM для экспериментальных исследований высокая

История изменения цены

*Текущая стоимость 10339.06 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Aug-17-2025 13131.19 руб. 13394.95 руб. 13262.5 руб.
Jul-17-2025 10649.53 руб. 10862.25 руб. 10755.5 руб.
Jun-17-2025 12924.63 руб. 13182.77 руб. 13053 руб.
May-17-2025 12820.24 руб. 13076.60 руб. 12948 руб.
Apr-17-2025 10236.56 руб. 10441.75 руб. 10338.5 руб.
Mar-17-2025 12614.38 руб. 12866.11 руб. 12740 руб.
Feb-17-2025 12510.39 руб. 12760.53 руб. 12635 руб.
Jan-17-2025 12407.77 руб. 12655.86 руб. 12531 руб.

Описание товара

Кремниевый Полировочный Тип SEM для экспериментальных исследований высокаяКремниевый Полировочный Тип SEM для экспериментальных исследований высокаяКремниевый Полировочный Тип SEM для экспериментальных исследований высокаяКремниевый Полировочный Тип SEM для экспериментальных исследований высокаяКремниевый Полировочный Тип SEM для экспериментальных исследований высокаяКремниевый Полировочный Тип SEM для экспериментальных исследований высокая


Характеристики:

Монокристалл,Двухсторонняя полировка, 2,3,4 дюйма

Материал:

Монокристаллическая подложка из силикона высокой чистоты Si. Опционально.

Использование:

1.PVD/CVD покрытие подложки

2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасная, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические тестовые подложки

3. Экспериментальная переноска образцов синхротронного излучения

4. Подложка для эпитаксиального выращивания молекулярного пучка

5. Полупроводниковый процесс литографии и т. Д.

4inch

12345678


Смотрите так же другие товары: